使用地点：海南师范大学物理与电子工程学院
(海南师范大学物理与电子工程学院物理楼205室)
霍尔效应测试仪是利用霍尔效应原理测量材料电学特性的仪器，用于电子设备的生产制造、科研实验以及工程项目等领域。霍尔效应测试仪可测量半导体薄膜或薄层材料材料的电运输参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、方阻等，这些参数对半导体器件和半导体材料的电学特性至关重要。
负责人：王德波
电话：135 1982 8839
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