使用地点：海南师范大学物理与电子工程学院
(海南师范大学国家大学科技园C栋105号海南省激光技术与光电功能材料重点实验室)
Bar条综合测试设备是主要针对已贴片的BOS(bar on submount)器件，在可控温度工作台上自动测定其光功率、电压、电流、波长、远场发散角等特性。该测试设备对BOS器件能够提供快速和准确的测量，为开发、研制和生产高性能的bar条产品提供了强有力的保障。
-高速测量能力: 500数据点PIV只需要1秒， 自动化程度高
-电流范围宽：标准电流范围0-5A(可配置到0-0.5A， 0-10A)
-电流波形选择宽： 100微秒脉冲宽度到连续电流(具体可定制)
-非常适应于激光显示、光通讯、大功率类型的半导体激光
负责人：赵志斌
电话：188 7613 4344
